JIS C5030-1978 电子元器件温度变化试验规程
作者:标准资料网
时间:2024-05-21 02:22:01
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【英文标准名称】:Changeoftemperaturetestingproceduresforelectroniccomponents
【原文标准名称】:电子元器件温度变化试验规程
【标准号】:JISC5030-1978
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1978-09-01
【实施或试行日期】:1978-09-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;电气元件;温度;试验;热试验;通信设备
【英文主题词】:communicationequipment;testing;temperature;thermaltesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:
【页数】:8P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:电子元器件温度变化试验规程
【标准号】:JISC5030-1978
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1978-09-01
【实施或试行日期】:1978-09-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;电气元件;温度;试验;热试验;通信设备
【英文主题词】:communicationequipment;testing;temperature;thermaltesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:
【页数】:8P;A4
【正文语种】:日语
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